酸化グラフェン片のSEM・AFM測定、ISO/TS 23879案が承認段階へ
酸化グラフェン片の横寸法をSEM、厚さをAFMで測る技術仕様書案が、10月27日にISOの最終承認段階へ進みました。正式発行前で、測定手順の詳細確認には本文が必要です。
国際標準化機構（ISO）は2026年10月27日、ISO/TC 229で開発中の技術仕様書案ISO/DTS 23879（第1版）を段階50.20に進めました。正式名称は「Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes — Thickness and lateral size measurement using atomic force microscopy and scanning electron microscopy」です。ISOの進捗表示では事務局への校正刷り送付または8週間の最終投票開始に相当し、なお開発中です。国際的な技術仕様書案であり、発行日・発効日や日本でのJIS化は確認できません。
ISOが無料公開する要旨によると、酸化グラフェン片の横寸法を走査電子顕微鏡（SEM）で、厚さを原子間力顕微鏡（AFM）で測定する方法を扱い、試料の前処理、測定、データ解析を含みます。粉末および液体分散試料を対象とします。本文の測定条件、判定基準、報告事項などは公開要旨から確認できず、推測で補えません。実際の手順を採用する際は、発行後の本文を確認する必要があります。
酸化グラフェンの構造評価を行う分析室では、既存の試料調製、SEM画像からの横寸法評価、AFMによる厚さ測定、解析記録の手順を点検し、最終版との照合に備えられます。現時点で試験法の変更義務や移行期間が定まったものではありません。投票結果や発行版により内容と日程が変わる可能性があります。